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扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数admin 发布日期:2019-10-21 14:06 浏览量:

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  中地数媒(北京)科技文化有限责任公司奉行创新高效、以人为本的企业文化,坚持内容融合技术,创新驱动发展的经营方针,以高端培训、技术研发和知识服务为发展方向,旨在完成出版转型、媒体融合的重要使命电子显微镜分析技术在冶金学中的成功应用(20世纪30年代末期),为30年后(20世纪70年代初期)在地质学中的应用奠定了基础,更为半个世纪后构造地质学学科的突破性进展创造了极为有利的条件。电子显微技术的运用,使得构造地质学家得以重新认识众多构造带内变质构造岩,尤其是糜棱岩的成因。从而改变了人们在许多方面的传统认识,也改变了人们在开展构造研究,尤其是变质岩区构造研究时的思维方式。

  透射电子显微镜(TEM,transmission electron microscopy):位错理论提出(1934)20多年后,1956年,科学家首次成功地在变形矿物颗粒内直接观察到位错构造的存在。样品制备技术影响了电子显微镜技术的广泛推广与应用。直到70年代初期,离子轰击减薄技术的应用才推动了对矿物变形微结构的透射电子显微镜研究广泛开展。研究较多的矿物主要是石英、辉石和橄榄石。近来对于碳酸盐矿物、硅酸盐矿物及氧化物的研究也在不断深入。TEM技术对于确定和研究超微域内的微构造特点、研究极细粒物质的颗粒形态与颗粒边界构造特点是一种非常有用的工具。

  TEM广泛应用于观察与确定变形岩石颗粒的超微构造型式,即位错构造的特点(见图1-10,1-11,1-14~1-17)。观察位错的基本类型、形态、组合与分布规律;阐述矿物颗粒的主要变形机制、岩石流变学状态与构造岩的成因;定量确定变形矿物颗粒内自由位错的密度,进而判断岩石稳态变形条件,即古差异应力条件;TEM有效地用于确定变形矿物晶体内的主要滑移系,滑移系统的Burger矢量;结合变形条件阐述矿物蠕变的基本规律。

  扫描电子显微镜(SEM,scanning electron microscopy):扫描电子显微镜是根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。扫描电子显微镜利用细聚焦电子束在样品表面逐点扫描,与样品相互作用产生各种物理信号,这些信号经检测器接收、放大并转换成调制信号,最后在荧光屏上显示反映样品表面各种特征的图像。

  扫描电镜具有景深大、图像立体感强、放大倍数范围大、连续可调、分辨率高、d88尊龙样品室空间大且样品制备简单等特点,是进行样品表面研究的有效分析工具。它广泛应用于地质样品的微区成分、形貌和取向的综合分析,适用于构造地质学、岩石学、矿床学、矿物学和地球化学等多学科的研究工作。尤其将EBSD技术与扫描电子显微镜配置于一体,开展晶格优选组构分析,将会成为推动构造地质学新理论诞生的重要途径。

  

  扫描电子显微镜(SEM)是显微构造分析的有效手段(照片7-002)。目前已开展研究的方面有:①扫描电子显微镜应用于成分分析:与电子探针类似,能够进行微区成分分析,分析颗粒粒径可以达数微米;②背散射电子图像反映微细矿物颗粒内部成分结构与变化规律,尤其是颗粒的三维形态特点;③二次电子图像观察细小颗粒的三维形态、颗粒表面或颗粒边界上的微观特点;④应用Kikuchi Band确定微细矿物晶体颗粒或亚晶粒的定向性(晶格方位);⑤SEM阴极发光分析使得能够更确切地分析变形结构的显微特点,探讨岩石变形的微观机制与变形过程。

  扫描电子显微镜分析样品制备:扫描电子显微镜观察对于样品要求基于不同的目的,有所差异。开展样品表面结构和形貌分析,可以使用原位样品,但样品需要清洁。但对于精确的成分分析的样品,常常需要切制成光片或光薄片,保持表面平整、整洁。对于非导电样品,需要镀金或喷碳以获得更好的观察和分析效果。新型日立钨灯丝扫描电子显微镜的样品尺寸可以达到:直径200mm,高度80mm,可以用来观察大样品的表面形态和结构分析。


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